Учебные издания СибГИУУчебные издания СибГИУ Учебные издания СибГИУ
|
|
|












На главную
Введение
Поиск
Учебные издания
  Институт дополнительного профессионального образования
  Кафедра автоматизации и информационных систем
  Кафедра архитектуры
  Кафедра геологии, геодезии и безопасности жизнедеятельности
  Кафедра геотехнологии
  Кафедра дошкольного и начального образования
  Кафедра естественнонаучных дисциплин имени профессора В.М. Финкеля
  Кафедра инженерных конструкций, строительных технологий и материалов
  Кафедра менеджмента и территориального развития
  Кафедра менеджмента качества и инноваций
  Кафедра металлургии черных металлов и химической технологии
  Кафедра механики и машиностроения
  Кафедра непрерывного педагогического образования и методики обучения
  Кафедра обработки металлов давлением и материаловедения. ЕВРАЗ ЗСМК
  Кафедра открытых горных работ и электромеханики
  Кафедра прикладной математики и информатики
  Кафедра прикладных информационных технологий и программирования
  Кафедра социально-гуманитарных дисциплин
  Кафедра теплогазоводоснабжения, водоотведения и вентиляции
  Кафедра теплоэнергетики и экологии
  Кафедра транспорта и логистики
  Кафедра физического воспитания
  Кафедра физической культуры и спорта
  Кафедра филологии
  Кафедра экономики и устойчивого развития бизнеса
  Кафедра электротехники, электропривода и промышленной электроники
  Проектная деятельность
  Университетский колледж
Последние 20 учебных изданий
Статистика посещений
Как связаться с администраторами?










Кафедра естественнонаучных дисциплин имени профессора В.М. Финкеля





Дислокационная структура и дислокационные субструктуры. Электронно-микроскопические методы измерения их параметров : учебно-методическое пособие / Н. А. Конева, Т. В. Черкасова, Л. И. Тришкина, Н. А. Попова, В. Е. Громов, К. В. Аксенова ; Сиб. гос. индустр. ун-т. – Новокузнецк : Издательский центр СибГИУ, 2019. – 135 с. : ил. – URL: http://library.sibsiu.ru.
Кол-во файлов - 1
№ УМИ: -
Представляет собой обзор типов электронно-микроскопических методов по определению в дислокационной структуре материала средней скалярной плотности дислокаций и ее компонент. Приведены типичные примеры с методическими указаниями по определению плотности дислокаций в ГЦК сплавах с разной степенью активной деформации. Представлена классификация типов субструктур, формирующихся в процессе активной деформации. Определены параметры, их характеризующие. Даны примеры с методическими указаниями по определению параметров для каждого типа субструктур. Представленные методы апробированы и широко используются в научных лабораториях кафедры физики ТГАСУ и кафедры естественнонаучных дисциплин им. профессора В. М. Финкеля СибГИУ для проведения научно-исследовательских работ. Предназначено для широкого круга специалистов, работающих в области материаловедения и физики конденсированных систем (металлов и сплавов), преподавателей, аспирантов и студентов, в том числе по направлениям 08.03.01, 08.05.01, 23.05.01, 22.03.01.
 

Открытый доступ к электронным учебным изданиям организован внутри корпоративной сети университета.

Для внешнего доступа к ресурсам по сети Интернет необходима Авторизация: введите штрих-код читательского билета и пароль (по умолчанию дата рождения - ДДММГГ).

Для сторонних пользователей электронные версии учебных изданий предоставляются на условиях электронной доставки документов (ЭДД).

Внимание! Пользователь несет ответственность за незаконное использование информации в целях, противоречащих авторскому праву.

Для просмотра материалов необходимо установить Adobe Acrobat Reader (версия 5.0 и выше)


 №   Название   Размер   Кол-во обращений       
1 pdf-файл 5,54 Мб 3 Авторизация
Скопировать ссылку в буфер обмена


Назад






|
|
СибГИУ
|