|
|
 |
Электронно-микроскопическое исследование структуры зоны контакта подложка-покрытие, подвергнутой облучению импульсным электронным пучком / Ю. Ф. Иванов, М. О. Ефимов, В. Е. Громов, Ю. А. Шлярова, С. В. Коновалов, И. А. Панченко. – DOI 10.25712/ASTU.1811-1416.2024.01.001. – Текст : непосредственный // Фундаментальные проблемы современного материаловедения. – 2024. – Т. 21, № 1. – С. 9-16. – Библиогр.: с. 14-16 (25 назв.).
Кол-во файлов - 1
|
|
|
|
Открытый доступ к статьям СибГИУ организован внутри корпоративной сети университета. Для внешнего доступа к БД по сети Интернет необходима Авторизация: введите штрих-код читательского билета и пароль (по умолчанию дата рождения - ДДММГГ).
Для просмотра файлов необходимо установить Adobe Acrobat Reader (http://www.adobe.com/acrobat)
|
Назад
|
|
|
|
